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家用電器GB/T4343標(biāo)準(zhǔn)檢測報(bào)告申請要求

所屬分類：最新標(biāo)準(zhǔn)介紹與認(rèn)證流程發(fā)布時(shí)間：2022/5/17 11:28:01

家用電器GB/T4343標(biāo)準(zhǔn)檢測報(bào)告申請要求是什么？GB4343.1標(biāo)準(zhǔn)檢測的是家用電器、電動(dòng)工具等產(chǎn)品的電磁打擾水平，能夠形象地比喻為規(guī)則這些電氣產(chǎn)品的電磁排污水平。電磁打擾是電氣產(chǎn)品正常運(yùn)轉(zhuǎn)發(fā)生的副產(chǎn)物，是電氣產(chǎn)品正常運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)對(duì)電磁環(huán)境的污染，能夠以為GB4343.1規(guī)范是電磁環(huán)境維護(hù)規(guī)范，斷定為強(qiáng)制性規(guī)范是十分必要的。

　　GB/T4343標(biāo)準(zhǔn)檢測辦理的重要性：

　　GB4343.1是我國強(qiáng)制性產(chǎn)品認(rèn)證適用規(guī)范，該規(guī)范的修訂發(fā)布，配合CCC認(rèn)證的施行，必定有力促進(jìn)我國電磁環(huán)境的維護(hù)，下降電磁污染水平，提高產(chǎn)品質(zhì)量，為完成公民對(duì)美好生活的神往奉獻(xiàn)一份力氣。

　　GB/T4343標(biāo)準(zhǔn)更新的主要變化

　　舊標(biāo)5.1：用于在連接插頭和插座上的靜電測試（“4 kV的接觸放電應(yīng)被應(yīng)用于導(dǎo)電可接觸的部分。如電池隔間或插座中的金屬觸點(diǎn)排除在外。”）說明無需對(duì)觸點(diǎn)進(jìn)行測試。新標(biāo)引用的GB/T 17626.2—2018包括如何處理觸點(diǎn)和其他表面上的靜電放電（ESD）的詳細(xì)說明。同時(shí)，基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn)GB/T17626.2—2018要求在水平耦合板（HCP）和垂直耦合板（VCP）上放電；

　　5.3和5.4：根據(jù)GB/T 17626.6—2017的直流電源端口測試表與通用標(biāo)準(zhǔn)對(duì)齊，對(duì)于5.3和5.4也是相同的；

　　5.3和5.4：對(duì)于使用單線電纜和沒有其他電纜的EUT，應(yīng)該使用如圖2所示的測試設(shè)置。不應(yīng)使用GB/T 17626.6—2017附件F中所述的設(shè)置；

　　5.5：GB/T 17626.22—2017作為輻射抗擾度試驗(yàn)的替代方法；

　　5.6：線到地浪涌不適用于沒有接地的產(chǎn)品。

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　　家電GB/T4343標(biāo)準(zhǔn)條款：

　　GB4343.1-2018《家用電器、電動(dòng)工具和類似器具的電磁兼容要求第1部分：發(fā)射》（CISPR14-1：2011）標(biāo)準(zhǔn)

　　3.24時(shí)鐘頻率clock frequency裝置中使用的任何信號(hào)的基波頻率，集成電路用（IC）內(nèi)單獨(dú)使用的信號(hào)除外。

　　注：高頻通常由集成電路（IC）外的較低時(shí)鐘震蕩頻率通過集成電路（IC）內(nèi)的鎖相環(huán)（PLL）電路產(chǎn)生。

　　4.1.2.3.2電網(wǎng)供電器具

　　按照方法a）或b），評(píng)估受試設(shè)備在30MHz~1000MHz頻段內(nèi)的發(fā)射，參見圖10;a）在30MHz~300MHz的頻段內(nèi)，除電動(dòng)工具外的任何器具應(yīng)符合表2a第2欄和第3欄的限值。對(duì)電動(dòng)工具，其特定限值按電動(dòng)機(jī)的額定功率由表2a第4欄至第9欄給出，任何加熱裝置的功率（例如塑料焊接吹風(fēng)機(jī)的加熱功率）除外。

　　如同時(shí)滿足以下條件1）和2），則認(rèn)為器具在30MHz~1000MHz頻段內(nèi)符合要求。

　　1）受試設(shè)備的所有發(fā)射值應(yīng)低于應(yīng)用限值（表2a）減去相應(yīng)裕量（表2b）；

　　2）更大時(shí)鐘頻率應(yīng)小于30MHz。

　　如不滿足條件1）和2）的任一條，則應(yīng)進(jìn)行30MHz~1000MHz頻段的輻射測量，采用表3中該頻段限值。在上述情況下，30MHz~1000MHz頻段應(yīng)符合表2a的限值。

　　b）符合表3限值。除了TEM波導(dǎo)法僅用于不打算連接外部電繞的電池供電器具，制造商可以選擇表3提及的任一測量方法（見表3腳注c）。

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